[发明专利]液晶显示面板的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，且特别涉及一种液晶显示面板的测试方法。

背景技术

硅基液晶(Liquid Crystal on Silicon panel，LCOS)面板是一种架构在硅晶圆(silicon wafer)上的液晶面板。此外，LCOS面板不仅具备体积小的优势，还具有不错的解析度，因此广泛地应用在各类型的液晶投影机中。

在整体架构上，LCOS面板是以金属氧化物半导体晶体管(MOS transistor)取代传统液晶显示器的薄膜晶体管，且像素电极(pixel electrode)是以金属材质为主，因此LCOS面板是属于一种反射型的液晶面板。对于反射型的液晶面板来说，高反射率将有助于提升面板的光效率。因此，在实际布局上，LCOS面板中像素的间距势必越小越好，以提升LCOS面板的反射率。

然而，随着像素之间距的变小，将伴随着像素电极短路的风险。针对此种情况，制造厂商往往是在LCOS面板组装完成后，通过点亮的画面才发现LCOS面板的异常。如此一来，不仅增加了面板的生产时间，更加重了面板的生产成本。因此，如何在硅晶圆出厂时，立即检测出像素电极短路的问题，已是LCOS面板在测试上所面临了一大课题。

发明内容

本发明提供一种液晶显示面板的测试方法，适用于具有彩色滤光片的硅基液晶面板，并用以降低面板的生产成本。

本发明提供一种液晶显示面板的测试方法，适用于采用色序法的硅基液晶面板，并用以降低面板的生产时间。

本发明提供一种液晶显示面板的测试方法，适用于采用色序法的硅基液晶面板，并用以在硅晶圆出厂时即可检测出液晶电容错误连接的问题。

本发明提出一种液晶显示面板的测试方法，其中硅基液晶面板包括多个像素与一测试垫，这些像素设置在第一至第三数据配线与多条扫描配线的交错处，且所述液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：驱动每一扫描配线，以将这些像素的液晶电容导通至第一至第三数据配线；分别提供第一测试电压与第二测试电压至第一数据配线与第二数据配线，其中第一测试电压不等于第二测试电压；将第一数据配线浮接；以及，通过测试垫测量浮接的第一数据配线，以判定电性连接至第一数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

在本发明的一实施例中，上述的液晶显示面板的测试方法，还包括：提供第一测试电压至第三数据配线；将第三数据配线浮接；以及，通过测试垫测量浮接的第三数据配线，以判定电性连接至第三数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

本发明提出另一种液晶显示面板的测试方法，其中硅基液晶面板包括多个像素与多个测试垫，每一像素各自包括一预充电容、一缓冲器与一液晶电容，这些像素电性连接一扫描配线、一显示配线与多条数据配线，且液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：禁能每一像素的缓冲器；驱动扫描配线与显示配线，以将这些像素的液晶电容与预充电容导通至数据配线；传送第一测试电压至这些数据配线中的奇数条数据配线，并传送第二测试电压至这些数据配线中的偶数条数据配线，其中第二测试电压不等于第一测试电压；将所述奇数条数据配线或是所述偶数条数据配线浮接；以及，通过部分测试垫测量浮接的奇数条数据配线或是偶数条数据配线，以判定这些像素中的液晶电容是否电性相连。

本发明提出又一种液晶显示面板的测试方法，其中硅基液晶面板包括M个像素与一测试垫，每一像素各自包括一预充电容、一缓冲器与一液晶电容，这些像素电性连接M条扫描配线、M条显示配线与一数据配线，M为不小于2的整数，且液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：禁能每一像素的缓冲器；将第j个像素内的液晶电容与预充电容充电至第一测试电压，j为小于M的正整数；将第(j+1)个像素内的液晶电容与预充电容充电至第二测试电压，其中第一测试电压不等于第二测试电压；在驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线的期间，致能第j个像素内的缓冲器，并浮接数据配线；以及，在驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线的期间，通过测试垫测量浮接的数据配线，以判定第j个像素与第(j+1)个像素内的液晶电容是否电性相连。

基于上述，本发明是将像素分别充电至不同的测试电压，并将部分数据配线切换至浮接状态。藉此，通过测量浮接的数据配线而取得的测量电压，将可用以判别像素中的液晶电容是否因应像素电极的短路而形成错误的连接。此外，本发明的测试方法可在面板尚未组装前即可检测出液晶电容错误连接的问题，因此可降低面板的生产时间以及生产成本。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。