[发明专利]一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法在审
| 申请号： | 201010253763.9 | 申请日： | 2010-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN102375134A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 肖志国;高百卉;武胜利;王力明;高本良;陈向东 | 申请（专利权）人： | 大连美明外延片科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 116025 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明介绍了一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法，利用发光二极管成品电性参数测试系统，通过亮度补偿值的方法提高亮度校准的准确性，减少普通校准方法需要的大量时间，提高了测试的产量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 成品 参数 测试 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种发光二极管成品电性参数测试的校准方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：将半自动探针测试机台针座的压力值调至低于10g，并固定每探针台真座的压力值；步骤2：使用新更换的点测针对机器做校准，得到每台机器的固有亮度真实值直线图，得到了真实值直线图对应的Gain和Offset的值；步骤3：找到阶段性亮度偏差值；步骤4：在需要校准的时间点，从本机台的偏差值曲线图上找到对应时间的亮度衰减数值，再在本机台亮度真实值直线图上补偿回来即可。
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