[发明专利]平面型硅压力传感器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010239737.0 申请日: 2010-07-29
公开(公告)号: CN102338681A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 程晓华;方精训;彭仕敏;金峰;刘远良;邓镭 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G01L9/04 分类号: G01L9/04;G01L1/16;B81B3/00;B81C1/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王函
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种平面型硅压力传感器,其由下至上依次为:硅衬底、氮化膜、硅传感薄膜、密封氮化膜;在部分硅衬底和部分氮化膜内设有一个空腔;在硅传感薄膜内设有释放孔,该释放孔与空腔垂直连通。此外,本发明还公开了上述平面型硅压力传感器的制造方法。本发明平面型硅压力传感器的释放孔开在硅传感薄膜的内部,并与空腔结构垂直连通,无需定锚的支撑,力学性能更加稳定,有利于湿法刻蚀氧化膜牺牲层的去除,工艺简单、成本低。
搜索关键词: 平面 压力传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种平面型硅压力传感器,其特征在于,其由下至上依次为:硅衬底、氮化膜、硅传感薄膜、密封氮化膜;在部分硅衬底和部分氮化膜内设有一个空腔;在硅传感薄膜内设有释放孔,该释放孔与空腔垂直连通。
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