[发明专利]平面型硅压力传感器及其制造方法有效
申请号: | 201010239737.0 | 申请日: | 2010-07-29 |
公开(公告)号: | CN102338681A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 程晓华;方精训;彭仕敏;金峰;刘远良;邓镭 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | G01L9/04 | 分类号: | G01L9/04;G01L1/16;B81B3/00;B81C1/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王函 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种平面型硅压力传感器,其由下至上依次为:硅衬底、氮化膜、硅传感薄膜、密封氮化膜;在部分硅衬底和部分氮化膜内设有一个空腔;在硅传感薄膜内设有释放孔,该释放孔与空腔垂直连通。此外,本发明还公开了上述平面型硅压力传感器的制造方法。本发明平面型硅压力传感器的释放孔开在硅传感薄膜的内部,并与空腔结构垂直连通,无需定锚的支撑,力学性能更加稳定,有利于湿法刻蚀氧化膜牺牲层的去除,工艺简单、成本低。 | ||
搜索关键词: | 平面 压力传感器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种平面型硅压力传感器,其特征在于,其由下至上依次为:硅衬底、氮化膜、硅传感薄膜、密封氮化膜;在部分硅衬底和部分氮化膜内设有一个空腔;在硅传感薄膜内设有释放孔,该释放孔与空腔垂直连通。
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