[发明专利]毫米波检查设备的辐射计温度校准装置及其校准方法有效
| 申请号： | 201010223295.0 | 申请日： | 2010-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN102313912A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;李元景;赵自然;刘以农;吴万龙;张丽;林东;沈宗俊;罗希雷;郑志敏;桑斌;曹硕;金颖康 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘晓峰 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。与现有技术相比，在本发明的上述各个实施例中，由于为辐射计设置了专门的高低温校准装置，因此能够对辐射计的初值和增益实时地校准，从而避免了环境温度变化和辐射计自身温度变化所带来的不利影响，从而提高了辐射计的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 毫米波 检查 设备 辐射计 温度 校准 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。
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