[发明专利]一种磁光椭偏测量装置及测量方法

摘要

一种磁光椭偏测量装置及测量方法，属磁性材料的磁光测量技术领域，装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成，利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下：(1)光路中加入分光计可以精确测量入射角，由于分光计测量角的分辨率可以达到0.01°，故测量精度高。(2)通过对分光计改造，使其一平行光管可拆卸，避免了测量角度时需移动电磁铁的麻烦，使测量更加精确、方便。(3)光路简单实用，光路中所需的光学器件都是通用的光学器件，成本低。(4)操作方便，无需移动电磁铁就可进行材料纵向、极向磁光椭偏的测量。

主权项

一种磁光椭偏测量装置，由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成，其特征在于光路系统由衰减片，光阑、起偏器、分光计、检偏器、光阑、CCD组成，光路系统位于激光光源之后，依激光光源传送次序先后排列为衰减片、光阑、起偏器、分光计、检偏器、光阑、CCD；CCD的输出端连接到PC机上，以观察记录并计算测量结果。