[发明专利]一种动态测量高分子薄片高阻的方法无效
申请号: | 201010177012.3 | 申请日: | 2010-05-18 |
公开(公告)号: | CN101846706A | 公开(公告)日: | 2010-09-29 |
发明(设计)人: | 陈建康;雷金涛;张明华;孙超;郑维钰;张鹏 | 申请(专利权)人: | 宁波大学 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R27/26 |
代理公司: | 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 | 代理人: | 邱积权 |
地址: | 315211 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种动态测量高分子薄片高阻的方法,具体包括如下步骤,步骤一:在高分子薄片的两端面分别镀上铜层;步骤二:将镀铜层的高分子薄片两端面分别通过强力胶水层胶住金属板;步骤三:在两块金属板上分别固定金属杆;步骤四:每侧金属杆分别与霍普金森拉杆中的其中一根拉杆固定;其优点在霍普金森拉杆实验中,其两根拉杆分别与金属杆固定连接,对高分子薄片进行瞬间拉伸,此时动态测量高阻仪记录下高分子薄片产生的连续电阻值,达到动态测量高分子薄片高阻的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 动态 测量 高分子 薄片 方法 | ||
【主权项】:
一种动态测量高分子薄片高阻的方法,其特征在于具体包括如下步骤,步骤一:在高分子薄片的两端面分别镀上铜层;步骤二:将镀铜层的高分子薄片两端面分别通过强力胶水层胶住金属板;步骤三:在两块金属板上分别固定金属杆;步骤四:每侧金属杆分别与霍普金森拉杆中的其中一根拉杆固定;步骤五:在每侧铜层的外侧上分别引出导线与动态测量高阻仪的输入端连接。
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