[发明专利]反向导通半导体器件有效
申请号: | 201010175167.3 | 申请日: | 2010-04-29 |
公开(公告)号: | CN101877352A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | L·斯托拉斯塔;M·拉希莫;C·冯阿尔克斯;A·科普塔;R·施内尔 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L29/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱海煜;徐予红 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供具有电有源区的反向导通半导体器件(200),其包括在共有晶圆(100)上的续流二极管和绝缘栅双极晶体管。该晶圆(100)的一部分形成具有基极层厚度(102)的基极层(101)。具有至少一个第一区(10)的第一导电类型的第一层(1)和具有至少一个第二和第三区(20、22)的第二导电类型的第二层(2)交替设置在所述集电极侧(103)上。每个区具有被区边界环绕的具有区宽度(11、21、23)的区区域。该RC-IGBT采用这样的方式设计使得满足一定几何规则。 | ||
搜索关键词: | 向导 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种反向导通半导体器件(200),其包括在共有的晶圆(100)上的续流二极管和绝缘栅双极晶体管,该晶圆(100)的一部分形成具有第一掺杂浓度和基极层厚度(102)的第一导电类型的基极层(101),其中所述绝缘栅双极晶体管包括集电极侧(103)和在所述晶圆(100)的所述集电极侧(103)的相对侧的发射极侧(104),其中所述基极层厚度(102)是具有所述第一掺杂浓度的所述晶圆的那部分的集电极侧和发射极侧(103、104)之间的最大垂直距离,第一导电类型的和比第一掺杂浓度更高的掺杂浓度的第一层(1)与第二导电类型的第二层(2)交替设置在所述集电极侧(103)上,其中第一导电类型的第三层(3)、第二导电类型的第四层(4)和采用栅电极的形式的导电第五层(5)设置在所述发射极侧(104)上,其中所述第一层(1)包括至少一个第一区(10),其中每个第一区(10)具有第一区宽度(11),其中所述第二层(2)包括至少一个第二区(20)和至少一个第三区(22),其中每个第二区(20)具有第二区宽度(21),其中每个第三区(22)具有第三区宽度(23),其中任何区具有区宽度和被区边界环绕的区区域,其中最短距离是在所述区区域内的点和在所述区边界上的点之间的最小长度,每个区宽度限定为在所述区内任何最短距离的最大值的两倍,所述反向导通半导体器件(200)包括电有源区(110),该有源区(110)是所述晶圆(100)内包含所述第三层(3)、第四层(4)和第五层(5)并且设置在所述第三层(3)、第四层(4)和第五层(5)下面的区域,其特征在于每个第三区区域是其中任意两个第一区(10)具有大于所述基极层厚度(102)两倍的距离的区域,特征在于,所述至少一个第二区是所述第二层(2)中不是所述至少一个第三区(22)的那部分,所述至少一个第三区(22)采用这样的方式设置在所述有源区(110)的中心部分使得存在有至少一倍于所述基极层厚度(102)的所述第三区边界到所述有源区边界之间的最小距离,特征在于所述至少一个第三区(22)的面积之和在所述有源区(110)的10%和30%之间,特征在于每个第一区宽度(11)小于所述基极层厚度(102)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ABB技术有限公司,未经ABB技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010175167.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的