[发明专利]一种高速动态随机存储器测试系统无效
| 申请号： | 201010165054.5 | 申请日： | 2010-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN101937720A | 公开（公告）日： | 2011-01-05 |
| 发明（设计）人： | 张宇晖 | 申请（专利权）人： | 深圳市忆嘉电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高速动态随机存储器测试系统，其包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配板，所述驱动板和适配板之间通过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过同轴电缆输出到所述适配板。本发明具有高频测试信号衰减小，制造和维护成本低，性能优良的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高速 动态 随机 存储器 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种高速动态随机存储器测试系统，其特征在于：包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配板，所述驱动板和适配板之间通过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过同轴电缆输出到所述适配板。
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