[发明专利]一种降低存储器读干扰的电路及方法有效

专利信息
申请号: 201010162241.8 申请日: 2010-04-28
公开(公告)号: CN102237131A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 王琴;柳江;刘明 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种降低存储器读干扰的电路及方法。该电路包括全局字线、本地字线、存储块、存储子块、位线译码电路、高压切换电路和译码开关。该方法对字线采用两级译码技术,将传统存储块划分成块和子块,在编程和擦除时,存储器对整个块进行编程和擦除操作;在读取时,存储器仅对选中的子块进行读取操作,存储器在读取操作时,读取电压仅加载在选中子块的字线上,而未选中子块的字线电压为零,这样就能使读取操作带来的干扰降低到最小,提高存储数据的保持特性。利用本发明,可使存储器在存储密度不变的情况下,数倍的增加数据保持特性,提高存储器的可靠性;或者在数据保持特性不变的情况下,提高存储器的存储密度,降低单比特存储容量的成本。
搜索关键词: 一种 降低 存储器 干扰 电路 方法
【主权项】:
一种降低存储器读干扰的电路,其特征在于,该电路包括:全局字线(101),该全局字线(101)是在一个存储块中连接所有存储子块的导线,该导线通过译码开关(107)与所有本地字线(102)相连接;本地字线(102),该本地字线(102)是在一个存储子块中,与同一行所有存储单元的栅端相连接的导线;存储块(103),该存储块(103)是在存储器中根据编程干扰特性来划分的一定容量的存储阵列;存储子块(104),该存储子块(104)是对存储块(103)进行划分得到的一定容量的存储阵列;位线译码电路(105);高压切换电路(106);以及译码开关(107),由高压PMOS(401)和高压NMOS(402)构成。
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