[发明专利]一种地气微粒找矿方法有效
| 申请号： | 201010154422.6 | 申请日： | 2010-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN101819169A | 公开（公告）日： | 2010-09-01 |
| 发明（设计）人： | 曹建劲;熊志华;刘昶 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N23/225 | 分类号： | G01N23/225;G01N1/24;G01V9/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 陈卫 |
| 地址： | 510275 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于地质领域，涉及一种地球内部深穿透找矿方法，包括地气微粒的采集和分析，通过附有碳膜的钼网作为采集载体，采集载体在待检区域采集吸附了地下气流所带来的地气微粒样品后，利用透射电子显微镜检测钼网上的地气微粒样品，使微粒在单微粒的状态下在显微镜上进行分析，从而判断隐伏矿体特征。该方法提高了测试精度，使测试对象达到地气纳米级单微粒，分析微粒矿物成分、粒度、形状、各种微粒之间的比值和聚合等特征、化学成分(包括主量元素和微量元素)、含量、结构构造，以及成矿作用类型，综合勘查隐伏矿体。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 地气 微粒 方法 | ||
【主权项】：
一种地气微粒找矿方法，包括地气微粒的采集和分析，其特征在于：通过附有碳膜的钼网作为采集载体，采集载体在待检区域采集吸附了地下气流所带来的地气微粒样品后，利用透射电子显微镜检测钼网上的地气微粒样品，使微粒在单微粒的状态下在显微镜上进行分析，从而判断隐伏矿体特征。
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