[发明专利]一种地气微粒找矿方法

说明书

技术领域

本发明属于地质领域，涉及一种地球内部深穿透找矿方法，具体来说涉及 一种通过采集和分析地气纳米级微粒找矿的方法。

背景技术

地气测量(geogasprospecting)是上世纪80年代初发展起来的一种寻找深 部矿和隐伏矿的新方法。其机理在于地球内部普遍存在着垂直向上流动的气 流，地气流在地下深部向地表迁移的过程中，穿过矿体、矿化带或特殊地质构 造时可将其周围的纳米级微粒带至近地表土壤层或大气中，引起相应元素的异 常。国内外的研究者在不同地区不同矿化类型矿床(化)内进行了地气测量， 结果证实，在已知深部矿、隐伏矿体的正上方(即矿体向地表投影位置)有地 气物质多元素(包括金属和非金属元素)含量增高，即所称的地气异常(矿致 地气异常)。通过地气测量，可以快速判别矿异常和非矿异常，预测深部矿化 类型和规模，推断下伏地质构造。

地气测量法通过采样装置，吸附地壳内上升气流中的物质，进而用高灵敏 度高精确度测试仪器分析采样片上元素含量，如通过原子力显微镜、透射电子 显微镜、扫描电子显微镜、原子吸收光谱、等离子质谱、中子活化、X光荧光 光谱等检测手段，测试由地气携带的源于隐伏矿体或地质构造的单微粒或微粒 的聚合体特征，从而达到地质勘测的目的。这种方法是利用地气微粒特征和元 素含量结合探测隐伏矿床。该技术的示意图如附图1所示。

作为一种新的有前途的寻找隐伏矿的地球化学勘查方法，地气测量法因其 找矿直接性和探测深度大，已成为当今勘查地球化学界的热点领域。

但是，目前的地气测量的精度还不能达到准确判断地质情况的需要，主要 是因为目前即使用高灵敏度高精确度测试仪器进行检测，其精度只能达到多个 微粒聚合体的层面，是通过元素含量预测隐伏的矿体。而元素的高含量可以由 多种因素引起，例如碳质页(板)岩、玄武岩、辉绿岩、蚀变岩石等某些非矿地 质体都能形成假的异常，因此这些方法难以排除这些因素对预测结果的影响。 此外，物探方法也是一种提供间接成矿信息的找矿方法。

因此，开发一种更为有效的找矿技术，对隐伏矿体的勘查具有重要的意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种高精度、高清晰度和准 确度的测量地气的方法，以适应目前地气测量和地质勘查的需要。

本发明的另一目的是提供地气的捕集装置。

本发明通过以下技术方案实现上述目的：

发明提供了一种地气微粒找矿方法，包括地气微粒的采集和分析：通过附 有碳膜的钼网作为采集载体，采集载体在待检区域采集吸附了地下气流所带来 的地气微粒样品后，利用透射电子显微镜检测钼网上的地气微粒样品，使微粒 在单微粒的状态下在显微镜上进行分析，从而判断隐伏矿体特征。所述的采集 载体钼网，是位于如附图1所示的捕集器中。

该附有碳膜的钼网为两层碳膜分别附于钼网的两面，其中一面位于地下气 流的近端，另一面位于地下气流的远端。具有碳膜的钼网放置于地气聚集流通 处，便于具有吸附性的碳膜吸附上升地气中的微粒。利用这种双面碳膜钼网， 单层碳膜的厚度变薄，从而减少了显微镜检测的本底值，可以大大降低杂质对 于检测结果的影响，提高有机膜对地气微粒的吸附率。

在地气的采集方面，本发明采用的钼网可以应用于动态法和静态法两种。 静态法采集时，将钼网放置于一个下宽上窄的双向开口容器上端，容器置于待 检区域地表面以下，静置60天以上。动态法采集时，将通气管道置于待测区 域的地表以下，钼网的直径与管道相当，置于管道中与其横截面平行，管道进 一步与抽气装置相连，开启抽气装置进行采样(速率为0.8～1升/分钟，时间为 7.5～6分钟)；动态法中，除了采用钼网采集地气微粒之外，还可采用连接于抽 气装置的储水装置收集从钼网逃逸的剩余地气，并进一步用同样的方法进行测 试

动态法和静态法所使用的地气捕集器，本发明同时把它们列为保护范围之 一。

用于静态采集地气的地气捕集器，包括聚气装置和吸附载体：聚气装置是 一个上下开口且上窄下宽的容器；吸附载体是上下两面均附有碳膜的钼网，并 且水平放置连接于所述容器上开口处。