[发明专利]球栅阵列测试座无效
| 申请号： | 201010153856.4 | 申请日： | 2010-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN102221670A | 公开（公告）日： | 2011-10-19 |
| 发明（设计）人： | 谢君强;刘云海;丁佳妮 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/303 | 分类号： | G01R31/303 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 牛峥;王丽琴 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种球栅阵列测试座，包括测试座盖和底座，所述底座上设置有底座开口，所述测试座盖内表面上具有凸起的芯片固定端，其形状与尺寸与所述底座开口相适配，该芯片固定端具有通孔，并且该通孔贯穿测试座盖。采用本发明的测试座能够提高BGA器件的测试能力。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 | ||
【主权项】：
一种球栅阵列测试座，包括测试座盖和底座，所述底座上设置有底座开口，所述测试座盖内表面上具有凸起的芯片固定端，其形状与尺寸与所述底座开口相适配，其特征在于，该芯片固定端具有通孔，并且该通孔贯穿测试座盖。
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