[发明专利]环境友好半导体材料Mg2Si薄膜的磁控溅射制备工艺有效

专利信息
申请号: 201010147304.2 申请日: 2010-04-15
公开(公告)号: CN101798680A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 谢泉;肖清泉;张晋敏 申请(专利权)人: 贵州大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/58
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 吴无惧
地址: 550025 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明公开了一种环境友好半导体材料Mg2Si薄膜的磁控溅射制备工艺,它包括:首先清洗Si基片;其次采用高真空磁控溅射系统在Si单晶上沉积200-500nm纯金属Mg膜,形成Si/Mg薄膜结构;最后放置于真空退火炉内。对真空退火炉抽真空,退火炉背底真空小于等于10-3Pa,往高真空的退火炉内通入氩气,然后封闭退火炉进行退火处理。整个退火过程中,保持退火炉腔体内氩气气压为10-104Pa的氩气氛围、350-550℃退火3-8小时,直接形成环境友好半导体Mg2Si薄膜。本发明的磁控溅射法制备工艺,具有镀膜层与基片的结合力强、镀膜层致密、均匀等优点,适用于工业化的大规模批量生产。
搜索关键词: 环境友好 半导体材料 mg sub si 薄膜 磁控溅射 制备 工艺
【主权项】:
一种环境友好半导体材料Mg2Si薄膜的磁控溅射制备工艺,其特征在于:它包括以下过程:首先,清洗Si基片;其次,将清洗后的Si基片送入真空磁控溅射系统的溅射室,在Si单晶上沉积Mg膜,形成Si/Mg薄膜结构;最后,将Si/Mg薄膜结构放置于真空退火炉内在氩气氛围下350-550℃退火3-8小时,形成环境友好半导体Mg2Si薄膜。
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