[发明专利]深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法无效

专利信息
申请号: 201010144774.3 申请日: 2010-04-13
公开(公告)号: CN101833038A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 冯晓国;高劲松;梁凤超;赵晶丽 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 王立伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法。属于深凹曲面上测量金属网栅膜的相对电阻的测量工具和方法。电阻接触测量头的结构及连接关系:电极安装在卡簧上,支撑卡簧通过压簧调节接触应力的滑杆,外套为电极和滑杆提供支撑和运动导向,绝缘柱支撑压簧,由连杆将电阻接触测量头和与外机构连接。测量头做两套并通过连杆连接成一分规形式,从外套导线槽引出的导线与万用表笔相连,两个测量头引出的导线分别连接两个表笔,手持连杆,用手施压使测头电极与凹面随形并与导电网格膜层接触良好,测得电阻值,与平面已知电阻膜层比对测量,实现曲面导电网格膜层电阻的相对测量。该测量头结构简单、操作便捷,成本低廉,便于推广。
搜索关键词: 曲面 导电 网格 相对 电阻 接触 测量 及其 测量方法
【主权项】:
深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头,其特征在于:该电阻接触测量头包括电极(1)、卡簧(2)、滑杆(3)、压簧(4)、外套(5)、绝缘柱(6)、连杆(7)、小孔(8)、走线槽(9);各部件的位置及连接关系:电极(1)安装在卡簧(2)上,并且可随凹面曲率微调与待测导电网格接触面积,支撑卡簧(2)通过压簧(4)调节接触应力的滑杆(3),外套(5)为电极(1)和滑杆(3)提供支撑和运动导向,绝缘柱(6)支撑压簧(4),由连杆(7)将电阻接触测量头与外机构连接。
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