[发明专利]时域反射仪校正系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010137936.0 申请日: 2010-04-01
公开(公告)号: CN102213754A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 梁献全;李昇军;许寿国 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种时域反射仪校正方法,其利用电缆将时域反射仪上两个通道连接到校正器上。该方法将两条通道的Step Deskew及ChannelDeskew值归零,获取两条通道在同一时间测量到的最大特性阻抗,及获取两条通道测量到同一特性阻抗的时间。判断两个特性阻抗之间的差值是否在一允许的范围内,及判断两个时间之间的差值是否在一允许的范围内。当特性阻抗之间的差值不在允许的范围内时,调整其中一个通道的Step Deskew值,当时间之间的差值不在允许的范围内时,调整其中一个通道的Channel Deskew值。本发明还提供一种时域反射仪校正系统。本发明根据用户选择的通道,自动对该通道间的误差进行校正。
搜索关键词: 时域 反射 校正 系统 方法
【主权项】:
一种时域反射仪校正系统,其特征在于,一个待测的时域反射仪的通道通过电缆与一个校正器连接,该系统包括:判断模块,用于判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2;通道开启模块,用于开启所连接的两条通道,使其处于工作状态;参数设置模块,用于将所连接的两条通道的参数Step Deskew及Channel Deskew的值归零;测量模块,用于获取上述连接的两条通道在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗,以及在将连接上述两条通道与校正器的电缆切断后,获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间;比较模块,用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内,以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内;参数调整模块,用于当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时,根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的Step Deskew的值,使该两条通道之间的脉冲时间差缩小,以及当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时,根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值,使该两条通道之间的通道时间差缩小。
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