[发明专利]时域反射仪校正系统及方法

权利要求书

1.一种时域反射仪校正系统，其特征在于，一个待测的时域反射仪的通道通过电缆与一个校正器连接，该系统包括：

判断模块，用于判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；

通道开启模块，用于开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；

参数设置模块，用于将所连接的两条通道的参数Step Deskew及Channel Deskew的值归零；

测量模块，用于获取上述连接的两条通道在同一预设的时间点所测量到的最大特性阻抗，以及在将连接上述两条通道与校正器的电缆切断后，获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；

比较模块，用于通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内，以及通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；

参数调整模块，用于当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的Step Deskew的值，使该两条通道之间的脉冲时间差缩小，以及当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值，使该两条通道之间的通道时间差缩小。

2.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，该系统还包括：

初始化模块，用于初始化时域反射仪，使其恢复到出厂时的设置。

3.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，该系统还包括：

提示模块，用于在没有同时连接两条通道的情况下，发出提示信息，以及当上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内时，提示将连接上述两条通道与校正器的电缆切断。

4.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，所述参数调整模块调整其中一个通道的Step Deskew值及Channel Deskew值按照如下步骤执行：

当两个通道中的第一通道所测量到的特性阻抗大时，调整第二通道的Step Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Step Deskew的值，使其增大；及

当两个通道中的第一通道测量到同一预设特性阻抗的时间短时，调整第二通道的Channel Deskew的值，使其减小，或者调整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。

5.如权利要求1所述的时域反射仪校正系统，其特征在于，该系统还包括：

显示模块，用于显示校正之后的参数Step Deskew及ChannelDeskew的值。

6.一种时域反射仪校正方法，其特征在于，该方法包括：

(a)将一个校正器通过电缆连接到一个待测的时域反射仪的通道上；

(b)判断通过电缆连接到校正器上的通道的数目是否为2；

(c)在通过电缆连接到校正器上的通道的数目为2的情况下，开启所连接的两条通道，使其处于工作状态；

(d)将所连接的两条通道的参数Step Deskew及Channel Deskew的值归零；

(e)获取上述连接的两条通道在同一预设时间点所测量到的最大特性阻抗；

(f)通过比较判断上述获取的两个最大特性阻抗之间的差值是否在一个允许的特性阻抗范围内；

(g)当上述两个最大特性阻抗之间的差值不在所述允许的特性阻抗范围内时，根据该最大特性阻抗之间的差值调整其中一个通道的StepDeskew的值，使该两条通道之间的脉冲时间差缩小；

(h)重复步骤(e)至(g)，直至两个最大特性阻抗之间的差值在所述允许的特性阻抗范围内；

(i)将连接上述两条通道与校正器的电缆切断；

(j)获取该两条通道测量到同一预设特性阻抗的时间；

(k)通过比较判断上述获取的两个时间之间的差值是否在一个允许的时间范围内；

(l)当上述两个时间之间的差值不在所述允许的时间范围内时，根据该时间之间的差值调整其中一个通道的Channel Deskew的值，使该两条通道之间的通道时间差缩小；及

(m)重复步骤(j)至(l)，直至两个时间之间的差值在所述允许的时间范围内。

7.如权利要求6所述的时域反射仪校正方法，其特征在于，步骤(a)之前该方法还包括：

初始化时域反射仪，使其恢复到出厂时的设置。