[发明专利]测量立体物件的系统有效

专利信息
申请号: 201010133197.8 申请日: 2010-03-26
公开(公告)号: CN102200431A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 温光溥;林栋;余良彬 申请(专利权)人: 德律科技股份有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G01B11/30
代理公司: 北京嘉和天工知识产权代理事务所 11269 代理人: 严慎
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 测量立体物件的系统。该系统包括基座、平面扫描装置设于基座上、第一、第二光源发射装置、影像撷取装置及控制装置,第一、第二光源发射装置及影像撷取装置连结于平面扫描装置上,控制装置控制平面扫描装置进行平面运动,第一与第二光源发射装置分别交错轮替地投射光源至物件上,控制影像撷取装置撷取物件的影像;第一光源发射装置包括第一发光件及第一镜头,第一发光件投射第一光源至物件上;第二光源发射装置包括第二发光件及第二镜头,第二发光件投射第二光源至物件上;当第一或第二光源投射至物件用以撷取物件的多个影像,影像撷取装置位于第一与第二光源发射装置之间,包括感应芯片模块及远心镜头。本发明可避免动态加减速变化。
搜索关键词: 测量 立体 物件 系统
【主权项】:
一种测量立体物件的系统,用以测量一立体物件(90),该测量立体物件的系统(1)包括:一基座(20);一平面扫描装置(30),该平面扫描装置(30)设于该基座(20)上;一第一光源发射装置(40),该第一光源发射装置(40)连结于该平面扫描装置(30)上,该第一光源发射装置(40)包括一第一发光件(42)及一第一镜头(43),使得该第一发光件(42)通过该第一镜头(43)投射一第一光源(41)至该立体物件(90)上;一第二光源发射装置(50),该第二光源发射装置(50)连结于该平面扫描装置(30)上,该第二光源发射装置(50)包括一第二发光件(52)及一第二镜头(53),使得该第二发光件(52)通过该第二镜头(53)投射一第二光源(51)至该立体物件(90)上;一影像撷取装置(70),该影像撷取装置(70)连结于该平面扫描装置(30)上,当该第一光源(41)或该第二光源(51)投射至该立体物件(90)时用以撷取该立体物件(90)的多个影像,其中该影像撷取装置(70)位于该第一光源发射装置(40)与该第二光源发射装置(50)之间,其中该影像撷取装置(70)包括一感应芯片模块(71)及一远心镜头(72);一控制装置(60),该控制装置(60)用以控制该平面扫描装置(30)相对于该基座(20)进行一平面运动;控制该第一光源发射装置(40)及该第二光源发射装置(50),使得该第一光源(41)与该第二光源(51)以交错轮替地投射至该立体物件(90)上;控制该影像撷取装置(70),使得当该第一光源(41)或该第二光源(51)投射至该立体物件(90)时,控制该影像撷取装置(70)撷取该立体物件(90)的影像。
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