[发明专利]一种基于拟南荠菜的辐射旁效应早期过程验证实验方法无效

专利信息
申请号: 201010132810.4 申请日: 2010-03-22
公开(公告)号: CN101805791A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 王婷;李方华;卞坡;吴跃进 申请(专利权)人: 中国科学院等离子体物理研究所
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于拟南荠菜的辐射旁效应早期过程验证实验方法,采用模式植物拟南荠菜为材料,对拟南荠菜进行电离辐射后,进行剪切和嫁接处理,提取嫁接至受辐射的拟南荠菜根尖的新的拟南荠菜幼苗的AtRAD54基因,以AtRAD54基因表达水平作为检测终点。本发明的创新之处在于利用植物细胞全能的特性导致的可以切割和嫁接的特性,克服了动物实验中无法实现的受辐照组织(器官)和非辐照组织(器官)的“分离”与“连接”的局限,发明了一种可以在个体水平研究远程辐射信号早期过程的新的方法体系。
搜索关键词: 一种 基于 荠菜 辐射 效应 早期 过程 验证 实验 方法
【主权项】:
一种基于拟南荠菜的辐射旁效应早期过程验证实验方法,其特征在于:采用模式植物拟南荠菜的转基因系为材料,所述转基因系为AtRAD54Promoter-GUS转基因系,对拟南荠菜进行电离辐射后,进行剪切和嫁接处理,提取嫁接至受辐射的拟南荠菜根尖的新的拟南荠菜幼苗的AtRAD54基因,以所述AtRAD54基因表达水平作为检测终点,包括以下步骤:(1)实验材料培养:将拟南芥菜幼苗消毒后点播在MS培养基上,在光照条件下竖直培养,拟南芥菜幼苗的根部沿培养基表面向下竖直生长;(2)辐射处理:采用物理辐射手段,对拟南芥菜幼苗的根尖部位进行局部电离辐射;(3)剪切处理:用手术刀片切掉拟南芥菜幼苗的根尖部位受辐照的部分,剩余的植株转移到新的MS培养基上继续生长;(4)嫁接处理:将剪切处理后的拟南芥菜幼苗受辐照的根尖部位转移到新的MS培养基上,根尖向下竖直放置;选择新的拟南芥菜幼苗,剪掉相同长度的根尖后,将根向下竖直放直,并和受辐照的南芥菜幼苗根尖部分整齐对接,新的拟南芥菜幼苗剩余的根能向下缓慢生长,两部分根在交界面紧密接触;(5)地上部分植株辐射效应的检测:在剪切和嫁接处理完成24小时后,提取未受辐照的,并且嫁接至受辐射的拟南芥菜幼苗根尖的新的拟南芥菜幼苗的地上组织器官的AtRAD54基因,并同源重组修复相关基因AtRAD54基因启动子驱动的GUS报告基因作为表达,通过GUS报告基因判断所述AtRAD54基因表达是否明显上调,作为辐射生物效应的判定标准。
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