[发明专利]分析集成电路效能的系统与方法有效
| 申请号： | 201010130277.8 | 申请日： | 2010-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN101826124A | 公开（公告）日： | 2010-09-08 |
| 发明（设计）人： | 刘潮权;谢弘盛;刘德培 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 姜燕;邢雪红 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种分析集成电路效能的系统与方法。对集成电路执行时序分析的方法，其中此集成电路具有一时序路径。此方法包括计算时序路径中的非共同时序路径元件的数量，根据非共同时序路径元件的数量将一时序降额因子指定至时序路径，使用所指定的时序降额因子来计算集成电路的一时序分析，以及储存所计算的时序分析。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 集成电路 效能 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种对集成电路执行时序分析的方法，上述集成电路具有一时序路径，上述方法包括：计算上述时序路径中的非共同时序路径元件的数量；根据上述非共同时序路径元件的数量，将一时序降额因子指定至上述时序路径；使用上述所指定的时序降额因子来计算上述集成电路的一时序分析；以及储存上述所计算的时序分析。
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