[发明专利]一种用X射线检测PCB的方法有效

专利信息
申请号: 201010129714.4 申请日: 2010-03-19
公开(公告)号: CN101806756A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 梅领亮;刘世群;徐地华;陈伯平;吴伟钦;许德平;梁前 申请(专利权)人: 广东正业科技股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 罗晓林;李志强
地址: 523000 广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及PCB检测方法的相关技术领域,特别是一种用X射线检测PCB的方法。一种用X射线检测PCB的方法,所述方法包括通过X射线对PCB进行成像处理得到成像图片,所述方法包括:(11)对成像图片统计灰度直方图;(12)统计灰度直方图中像素分布最密集的地方,确定灰度范围[A,B];(13)用户确定灰度范围[A,B],输入色阶范围,输出色阶范围;(14)拉伸灰度范围[A,B]到新的灰度范围[Z1,Zk]从而得到新的成像图片。本发明使图像更加清晰可辨,可更加快速识别。
搜索关键词: 一种 射线 检测 pcb 方法
【主权项】:
一种用X射线检测PCB的方法,所述方法包括通过X射线对PCB进行成像处理得到成像图片,其特征在于,所述方法包括:(11)对成像图片统计灰度直方图;(12)统计灰度直方图中像素分布最密集的地方,确定灰度范围[A,B];(13)用户确定输入色阶范围[minA,MaxB],输出色阶范围[minOut,maxOut];(14)拉伸灰度范围[A,B[到新的灰度范围[Z1,Zk]从而得到新的成像图片。
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