[发明专利]基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法

摘要

基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法，它涉及一种混合电路的测试模块及测试方法，它解决了现有的自动测试设备存在的体积大、成本高、限制电流、测试不灵活的问题，测试功能模块由片上系统SOC、跟随器、模拟开关和电平转换电路连接而成。测试系统除包括测试功能模块外，还包括控制器。测试方法具体如下：一、片上系统SOC控制模拟开关由工作状态转换到测试状态；二、产生激励信号；三、对响应信号进行A/D采样，并存储采样结果；四、根据采样结果的数据传输方式进行数据处理并显示结果；五、片上系统SOC控制模拟开关测试状态转换到工作状态。本发明适用于混合电路的测试。

主权项

基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块，其特征在于它包括片上系统SOC(1)、第二跟随器(3‑2)、第三跟随器(3‑3)、第一模拟开关(4‑1)、第二模拟开关(4‑2)、电平转换电路(5)、激励信号连接器(9‑1)和响应信号连接器(9‑2)，片上系统SOC(1)的方波信号输出端与第二跟随器(3‑2)的信号输入端相连，第二跟随器(3‑2)的信号输出端与第一模拟开关(4‑1)的第一路信号输入端相连，第一模拟开关(4‑1)的信号输出端与激励信号连接器(9‑1)的信号输入端相连，响应信号连接器(9‑2)的信号输出端与第二模拟开关(4‑2)的信号输入端相连，第二模拟开关(4‑2)的信号输出端与第三跟随器(3‑3)的信号输入端相连，第三跟随器(3‑3)的信号输出端与电平转换电路(5)的信号输入端相连，电平转换电路(5)的信号输出端与片上系统SOC(1)的模拟信号输入端相连，片上系统SOC(1)的第一模拟开关控制信号输出端与第一模拟开关(4‑1)的控制信号输入端相连，片上系统SOC(1)的第二模拟开关控制信号输出端与第二模拟开关(4‑2)的控制信号输入端相连。