[发明专利]测试装置、校正方法及程序无效

专利信息
申请号: 200980160165.2 申请日: 2009-06-29
公开(公告)号: CN102460194A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 小塚纪义 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种测试装置,用于测试被测试器件,其包括:第一端子群组和第二端子群组,其具有向被测试器件输出信号的多个驱动器;第一共用设定部,其共用地设定从第一端子群组中的一驱动器和第二端子群组中的一驱动器输出的信号的延迟量;以及群组间调整部,其基于第一共用设定部在第一端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值,及第一共用设定部在第二端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值,来拉近从第一端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位与从第二端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位。
搜索关键词: 测试 装置 校正 方法 程序
【主权项】:
一种测试装置,用于测试被测试器件,其具有:第一端子群组和第二端子群组,所述第一端子群组和所述第二端子群组包括向所述被测试器件输出信号的多个驱动器;第一共用设定部,其共用地设定从所述第一端子群组中的一驱动器和所述第二端子群组中的一驱动器输出的信号的延迟量;以及群组间调整部,其基于所述第一共用设定部在所述第一端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值,及所述第一共用设定部在所述第二端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值,来拉近从所述第一端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位与从所述第二端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位。
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