[发明专利]光谱测定装置有效

专利信息
申请号: 200980159509.8 申请日: 2009-05-29
公开(公告)号: CN102449449A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 船山龙士;川真田进也;横地泰容;远藤雅人;吉田康浩;北浜谦一 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王轶;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象,能够缩短测定来自各测定部分的光的光谱测定所需的测定时间的光谱测定装置。光谱测定装置具备:具有两条以上的狭缝(12b)的狭缝组(12G);分光器(14),该分光器按照各条狭缝(12b)对由狭缝组(12G)提取出的光进行分光;以及测定器(15),该测定器测定由分光器(14)分光后的各条狭缝(12b)的光的各成分的强度。针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象(20),各狭缝(12b)从来自该测定对象(20)的光中提取来自各测定部分的光。
搜索关键词: 光谱 测定 装置
【主权项】:
一种光谱测定装置,其中,具备:狭缝组,其具有两条以上的狭缝,针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象,利用各条上述狭缝,从来自该测定对象的光中提取来自上述各测定部分的光;分光器,该分光器按照每条上述狭缝对由上述狭缝组提取出的光进行分光;以及测定器,该测定器测定由上述分光器分光后的每条上述狭缝的光的各成分的强度。
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