[发明专利]用于利用光电流对分析物进行特异性检测的电极构件

摘要

本发明涉及一种用于利用光电流对分析物进行特异性检测的电极构件。所述电极构件至少具有导电性基材及设置在所述导电性基材上的电子接受物质。上述电子接受物质至少是由：用半导体制成的第一物质层、以及用不同于上述半导体类型的半导体、金属或金属氧化物制成并担载于所述第一物质层的表面上的第二物质所组成。利用所述电极构件，可通过利用光电流对分析物进行特异性检测来实现提高对被测物质的检测灵敏度和测量精度。

主权项

一种电极构件，其用于利用光电流对分析物进行特异性检测，所述电极构件至少包括导电性基材和设置于所述导电性基材上的电子接受物质，所述电子接受物质至少包括包含半导体的第一物质的层、以及担载于所述第一物质的层的表面上且包含不同于所述半导体的半导体或者包含金属或金属氧化物的第二物质。