[发明专利]太阳能电池的检查装置无效
| 申请号： | 200980114442.6 | 申请日： | 2009-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN102017190A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 下斗米光博;涩谷俊绪;市村光 | 申请（专利权）人： | 日清纺绩株式会社 |
| 主分类号： | H01L31/18 | 分类号： | H01L31/18;G01N21/95;G01R31/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张宝荣 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种结构简单且廉价的太阳能电池的检查装置，其使正向的电流流过太阳能电池，进行EL发光。其具有：具备平坦的上表面(111)的暗室(110)；设置于暗室(110)的上表面，且载置作为被测定物(200)的太阳能电池的透明板(112)；设置于暗室(110)的内部，且相对于透明板倾斜而设置的反射板(140)；覆盖照相机(120)及暗室上部的作为被测定物的太阳能电池和输送导向件的遮光构件。 | ||
| 搜索关键词： | 太阳能电池 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种太阳能电池的检查装置，其特征在于，具有：暗室，其具备平坦的上表面；透明板，其设置于该暗室的所述上表面，并载置作为被测定物的太阳能电池；反射板，其位于所述暗室的内部，相对于所述透明板倾斜设置；照相机，其拍摄映入该反射板的被测定物的图像。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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