[发明专利]用于测量片材温度的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200980103930.7 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101932920A 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: 托马斯·杰弗里·罗纳德·贝农;伊恩·汉密尔顿·瑞德里;斯图尔特·弗朗西斯·梅特卡夫;安德鲁·梅洛;本·威尔曼 申请(专利权)人: 兰德国际仪器公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/52
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 郑小粤
地址: 英国莱*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 发明提供了一种测量片材温度的方法。片材布置成使得它在腔的至少一侧形成,以便增强在腔附近的片材的有效发射率。该方法包括:a)使用热成像装置来产生腔内部的至少一部分的热图,以探测腔所发出的辐射,该热图包括多个像素,每个像素具有表示由腔的对应区域发出的辐射的像素值;b)识别多个像素的第一子集,所述第一子集3的像素的像素值满足预定的标准;c)使用被识别的第一子集的像素来确定在该热图上的表示腔内最佳发射率增强的线;以及d)根据所确定的线选择多个像素的第二子集,并产生沿着所确定的线的温度分布,其中所述温度分布从与第二子集的像素中的每个像素相关的像素值中获得。
搜索关键词: 用于 测量 温度 方法 装置
【主权项】:
一种测量片材温度的方法,所述片材布置成使得所述片材在腔的至少一侧形成,以便增强在所述腔附近的所述片材的有效发射率,所述方法包括:a)使用热成像装置来产生所述腔内部的至少一部分的热图,以探测所述腔发出的辐射,所述热图包括多个像素,每个所述像素具有表示由所述腔的对应区域发出的辐射的像素值;b)识别所述多个像素的第一子集,所述第一子集的像素的像素值满足预定的标准;c)使用被识别的所述第一子集的像素来确定在所述热图上的表示所述腔内最佳发射率增强的线;以及d)根据所确定的线选择所述多个像素的第二子集,并产生沿着所确定的线的温度分布,其中所述温度分布从与所述第二子集的像素中的每个像素相关的像素值中获得。
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