[发明专利]光盘的检查方法以及光盘介质无效
申请号: | 200980000222.0 | 申请日: | 2009-02-10 |
公开(公告)号: | CN101681652A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 古宫成;中村敦史 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/26 | 分类号: | G11B7/26;G11B7/004 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的光盘的检查方法包含以下步骤:在光盘的第1半径位置、比上述第1半径位置靠内周侧的第2半径位置、和比上述第2半径位置靠内周侧的第3半径位置处,分别以记录速度V1记录数据,并再现已记录的数据,由此来分别测定再现信号的信号品质指标值A、B、C的步骤;在上述第1半径位置和上述第2半径位置处,分别以大于V1的记录速度V2记录数据,并再现已记录的数据,由此来分别测定再现信号的信号品质指标值D、E的步骤;以及根据上述信号品质指标值B以及E的不同来补正上述信号品质指标值C,由此来算出在上述第3半径位置处以上述速度V2记录数据并再现已记录的数据时的信号品质指标值F的步骤。 | ||
搜索关键词: | 光盘 检查 方法 以及 介质 | ||
【主权项】:
1.一种光盘的检查方法,其包含以下步骤:在光盘的第1半径位置、比上述第1半径位置靠内周侧的第2半径位置、和比上述第2半径位置靠内周侧的第3半径位置处,分别以记录速度V1记录数据,并再现已记录的数据,由此来分别测定再现信号的信号品质指标值A、B、C的步骤;在上述第1半径位置和上述第2半径位置处,分别以大于V1的记录速度V2记录数据,并再现已记录的数据,由此来分别测定再现信号的信号品质指标值D、E的步骤;以及根据上述信号品质指标值B以及E的不同来补正上述信号品质指标值C,由此来算出在上述第3半径位置处以上述速度V2记录数据并再现已记录的数据时的信号品质指标值F的步骤。
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