[实用新型]集成电路芯片封装成型质量视觉检测系统有效

专利信息
申请号: 200920282738.6 申请日: 2009-12-24
公开(公告)号: CN201681051U 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 周鑫 申请(专利权)人: 苏州均华精密机械有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/88;G01B11/02
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡
地址: 215101 江苏省苏州市吴中区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种集成电路芯片封装成型质量视觉检测系统,其特征在于:主要由光源、背光板、光学镜头、CCD图像传感器、图像采集卡、PC机组成,其中,光源位于背光板后方或端部,光学镜头位于背光板前方,被测芯片的定位面位于背光板与光学镜头之间,CCD图像传感器位于光学镜头对应被测芯片定位面的聚焦位置上,以此构成一种背光取像结构;CCD图像传感器的输出端与图像采集卡的输入端相连,图像采集卡的输出端与PC机的输入端相连。该系统可以检测集成电路芯片封装成型后的料片方向、芯片脚数、脚间距、脚弯、脚伤、脚断以及堤坝未切等质量指标,大大提高了检测效率。
搜索关键词: 集成电路 芯片 封装 成型 质量 视觉 检测 系统
【主权项】:
一种集成电路芯片封装成型质量视觉检测系统,其特征在于:主要由光源、背光板、光学镜头、CCD图像传感器、图像采集卡、PC机组成,其中,光源位于背光板后方或端部,光学镜头位于背光板前方,被测芯片的定位面位于背光板与光学镜头之间,CCD图像传感器位于光学镜头对应被测芯片定位面的聚焦位置上,以此构成一种背光取像结构;CCD图像传感器的输出端与图像采集卡的输入端相连,图像采集卡的输出端与PC机的输入端相连。
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