[实用新型]一种AD芯片转换误差检验装置有效
| 申请号： | 200920241678.3 | 申请日： | 2009-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN201562037U | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 张伟 | 申请（专利权）人： | 泰豪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人： | 刘凌峰 |
| 地址： | 330000 江西省*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 一种AD芯片转换误差检验装置，其特征是标准信号源连接A/D采样芯片，A/D采样芯片连接微处理器，微处理器分别连接显示系统和PC机。本实用新型的技术效果是：生产上在AD采样芯片投入批次使用之前，用批次抽取的方式通过该装置进行误差检验，可以大大提高普通测试仪器的精度和控制系统的准确度；对于设计要求精度在0.1级以上的高精度表则每个芯片都通过本设备的校准，则可以对由于采样零漂所产生的误差进行精确校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ad 芯片 转换 误差 检验 装置 | ||
【主权项】：
一种AD芯片转换误差检验装置，它包括标准信号源、A/D采样芯片、微处理器、显示系统、PC机，其特征是标准信号源连接A/D采样芯片，A/D采样芯片连接微处理器，微处理器分别连接显示系统和PC机。
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