[实用新型]一种AD芯片转换误差检验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种误差检验装置，尤其涉及一种AD芯片转换误差检验装置。

背景技术

AD采样转换芯片是连接模拟电路和数字电路的桥梁，通过采样芯片可以把模拟量转换为相应的数字量，并通过CPU进行处理后获得数据或做出相应的工作。但由于制作工艺或精度的原因，基本上所有AD芯片都会出现零漂。若不检测出来则很容易影响到数据采集的精度，对于高精度的仪表更为明显。

发明内容

本实用新型的目的在于提供了一种AD芯片转换误差检验装置，该装置可以迅速，方便的检查出各种AD采样芯片和各批次芯片的零点漂移，即在模拟输入量是芯片规定的数字转换的最低模拟输入量和最高模拟输入量的情况下，检测出数字输出量的偏移大小，可以为软件算法的校准提供准确数字，提高模拟采样的精度。

本实用新型是这样来实现的，它包括标准信号源、A/D采样芯片、微处理器、显示系统、PC机，其特征是标准信号源连接A/D采样芯片，A/D采样芯片连接微处理器，微处理器分别连接显示系统和PC机。

本实用新型的技术效果是：生产上在的AD采样芯片在投入批次使用之前，用批次抽取的方式通过该装置进行误差检验，可以大大提高普通测试仪器的精度和控制系统的准确度；对于设计要求精度在0.1级以上的高精度表则每个芯片都通过本设备的校准，则可以对由于采样零漂所产生的误差进行精确校准。

附图说明

图1为本实用新型的工作原理图。

在图中，1、标准信号源 2、A/D采样芯片 3、微处理器 4、显示系统 5、PC机

具体实施方式

如图1所示，本实用新型是这样来实现的，它包括标准信号源1、A/D采样芯片2、微处理器3、显示系统4、PC机5，其特征是标准信号源1连接A/D采样芯片2，A/D采样芯片2连接微处理器3，微处理器3分别连接显示系统4和PC机5。基本原理就是通过微处理器3访问将被测试AD采样芯片2，将标准输入值输入到AD采样芯片2的通道中，然后将其值在显示系统4进行显示，再将其值进行分析，从而进行芯片校准。