[实用新型]芯片外观缺陷自动检测装置

摘要

本实用新型公开了芯片的一种外观缺陷自动检测装置，该检测装置包括：控制电脑、芯片自动传送系统，控制电脑设有缺陷智能识别系统，芯片自动传送系统与缺陷智能识别系统连接；该检测装置的检测步骤为：(1)调整对被测芯片照明的光源；经过光学镜头，传送到CCD摄像机，(2)将CCD摄像机所成图像通过线缆传输到控制电脑，(3)缺陷智能识别系统工作，进行图像识别，检测与评判图像，(4)缺陷智能识别系统发送相应信号到控制电路以控制传送装置、分流机械进行合格品与非合格品的产品分流；本实用新型可以对芯片外观缺陷进行自动检测，实现准确、可靠和高效的芯片外观质量检测。

主权项

1、一种芯片外观缺陷自动检测装置，其特征在于：包括控制电脑、芯片自动传送系统、CCD摄像机，所述控制电脑设有缺陷智能识别系统，所述缺陷智能识别系统与CCD摄像机连接，所述芯片自动传送系统与控制电脑连接，CCD摄像机朝向被测芯片。