[发明专利]展成法渐开线齿廓测量仪测量点精确定位方法

摘要

本发明公开了一种展成法渐开线齿廓测量仪测量点精确定位方法，属于测试计量技术精密齿轮测量领域。齿形角比较法是通过比较测头处于不同位置时测量的齿廓偏差曲线，齿形角最大的测量曲线对应的测量点位置即为最佳位置。测量点偏差试值补偿法是指通过分析测量点偏差对齿廓偏差测量的影响，对测量点位置偏差进行逐个试值，对测量点处于高度差已知的两个位置时测量的渐开线齿廓偏差进行补偿，使补偿后的齿廓偏差值相同的数值即为初始位置时测量点的偏移量。上述测量点精确定位方法的精度高，可以广泛应用于其它高精度展成法渐开线测量仪中测量点位置的精确调整。

主权项

1.一种展成法渐开线齿廓测量仪测量点精确定位方法，包括齿形角比较法与测量点偏差试值补偿法，其特征是：当测量点偏离理论位置时，展成法渐开线测量仪生成的标准轨迹为延长渐开线或缩短渐开线；首先调整测量点低于理论平面，逐次调高测头高度，同时反复测量一高精度渐开线齿轮的齿廓偏差，直至测量点高于理论平面；在测量结果中齿形角最大或齿廓倾斜偏差最小的测量曲线对应的测量点位置即为调整的最佳位置；测量点偏差试值补偿法：首先，分析测量点偏差对渐开线齿形测量的影响，并建立数学补偿模型；通过显微镜调整测量点到高于导尺平面的某一位置，设测点与导尺面的距离为x；对齿根处一段渐开线齿廓进行重复测量，记录测量结果；调高测量点位移为Δ，继续重复测量同一齿廓，记录测量结果；对x取不同的值，分别对两次测量结果进行补偿，使两次补偿结果中齿廓偏差平均值相同的x值即为开始时测量点偏离导尺平面的距离，补偿后的齿廓偏差值即为渐开线齿廓的实际偏差。