[发明专利]相位调制阵列微型光谱仪光谱复原方法无效
| 申请号: | 200910264253.9 | 申请日: | 2009-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN101881663A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
| 发明(设计)人: | 何浩培;杨涛;李千秋;黄维;蔡潮盛 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学;香港中文大学 |
| 主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/28 |
| 代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 叶连生 |
| 地址: | 210003 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明是一种相位调制阵列微型光谱仪光谱复原方法,该方法为:1)对入射光进行光学整形,2)对CCD所得数据进行修正,3)根据CCD的频率探测范围[fa,fb]以及微型干涉仪的数量n,将该频段分成n等份,4)根据事先测得的各个频率的光通过各个微型干涉仪的透射率,以及各CCD实际所测值,组成一个线性方程组;5)该线性方程组用Tikhonov正则化方法求解;6)光谱辐射定标,得到入射光的光谱;7)如果需要较高的光谱频率分辨率,需要再次进行光谱复原。本方法解决了背景技术中入射光不均匀,测量频率范围宽的同时如何保证分辨率高且没有明显失真等技术问题。 | ||
| 搜索关键词: | 相位 调制 阵列 微型 光谱仪 光谱 复原 方法 | ||
【主权项】:
一种相位调制阵列微型光谱仪光谱复原方法,其特征在于该方法为:1)对入射光进行光学整形,使得光强均匀的平面光垂直入射到微型干涉仪阵列表面,由位于微型干涉仪下部的CCD采数据;2)对CCD所得数据进行修正,修正由于暗电流及探测器响应不均匀等原因所引起的测量误差;3)根据CCD的频率探测范围[fa,fb]以及微型干涉仪的数量n,将该频段分成n等份,每一份只取它的中心频率,每一份频宽为(fb-fa)/n,该频宽即为第一次光谱复原的频率分辨率;为了避免较大的失真,n的数目至少在50以上;4)根据事先测得的各个频率的光通过各个微型干涉仪的透射率,以及各CCD实际所测值,组成一个线性方程组;测该透射率时,入射光为通过均光、准直系统之前的光,5)该线性方程组用Tikhonov正则化方法求解;6)光谱辐射定标,得到入射光的光谱;7)如果需要较高的光谱频率分辨率,需要再次进行光谱复原。
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