[发明专利]单发次超短激光脉冲对比度测量装置

摘要

本发明提供了一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。所述装置的光路为，被测的平行激光束经过第一半透半反镜后将光变成透射光和反射光，透射光依次经过直角棱镜、第一反射镜、二倍频晶体、滤光片和半波片，反射光经过第二反射镜，两束光以位相匹配角入射到和频晶体上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经第一滤波片和刀口遮挡滤波后用第二半透半反镜将光分成两束，一束光依次经过第一衰减片、第一柱面透镜和第二滤光片后进入第一CCD，另外一束光依次经过遮挡片、第二衰减片、第二柱面透镜和第三滤光片后进入第二CCD，两个CCD对三阶自相关信号分布的主峰和主峰外的区域分别进行测试。本发明可以获得连续的相关信号强度分布信息，可测试单发次超短脉冲对比度达到～106左右。

主权项

一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置，其特征是，所述装置中的光路为，被测的平行激光束经过第一半透半反镜(1)后将光变成透射光和反射光，透射光依次经过作为光延迟可调装置的直角棱镜(2)、第一反射镜(3)、二倍频晶体(4)、第一滤光片(5)和半波片(6)，反射光经过第二反射镜(7)，两束光以位相匹配角入射到和频晶体(8)上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经第二滤波片(9)和刀口(10)遮挡滤波后用第二半透半反镜(11)将光分成两束，一束光依次经过第一衰减片(12)、第一柱面透镜(13)和第三滤光片(14)后进入第一CCD(15)对三阶自相关信号分布强区域光强进行测试；另外一束光依次经过遮挡片(16)、第二衰减片(17)、第二柱面透镜(18)和第四滤光片(19)后进入第二CCD(20)对三阶自相关信号分布强区域之外区域光强进行测试。