[发明专利]相变存储设备及其测试电路有效
| 申请号： | 200910260967.2 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN101901631A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | 金东槿;尹泰勋 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;黄启行 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试电路，其响应于测试模式信号，将由从外部电流源供给的电流所产生的数据施加至存储单元。 | ||
| 搜索关键词： | 相变 存储 设备 及其 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种相变存储设备的测试电路，所述测试电路响应于测试模式信号，将由从外部电流源供给的电流所产生的数据传输至存储单元。
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