[发明专利]一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法有效
| 申请号： | 200910259311.9 | 申请日： | 2009-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101876612A | 公开（公告）日： | 2010-11-03 |
| 发明（设计）人： | 颜则东;王先荣;王鷁;姚日剑;柏树;冯杰 | 申请（专利权）人： | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 张利萍 |
| 地址： | 730000*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，属于航空航天技术领域。本发明采用石英晶片原位监测航天器光学敏感表面污染量，将其置于真空室内，在石英晶体微量天平可视范围内，放置非金属材料，使其在真空条件下出气；调整分光光度计及真空系统，然后加热非金属材料，使污染物逸出；在线原位监测石英晶体微量天平的频率和温度并保存，最后关闭系统。本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法的灵敏度高，达到1.10×10-9～4.42×10-9；试验过程稳定可靠、重复性好，并适用于大规模试验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 航天器 光学 表面 非金属材料 出气 污染 原位 监测 方法 | ||
【主权项】：
本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：1)安装石英晶体微量天平系统和热控样品台系统，其视角为180°；将石英晶体微量天平中的石英晶片置于真空室内，在石英晶体微量天平的可视范围内，放置非金属材料，使其在真空条件下出气；2)调整分光光度计，使分光光度计中光束通过石英晶体微量天平中的石英晶片，原位测量石英晶片的反射率；3)启动真空系统，使真空仓在分子流状态下工作；4)通过石英晶体微量天平控制系统调整石英晶体微量天平零点；5)加热非金属材料，使污染物逸出；6)启动分光光度计，分光光度计原位测量石英晶片的反射率，保存各种参数及数据记录；7)在线原位监测石英晶体微量天平的各种参数，主要包括频率和温度，保存各种参数及数据记录；8)关闭石英晶体微量天平测试系统，关闭热控样品台系统，关闭分光光度计，关闭真空系统，回复试验设备至初始状态。
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