[发明专利]一种MOS管版图设计方法、装置及一种芯片无效
申请号: | 200910243863.0 | 申请日: | 2009-12-23 |
公开(公告)号: | CN101727526A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 冯春磊 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 苏培华 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种MOS管版图设计方法及装置,以解决MOS管版图面积较大的问题。所述MOS管版图包括源极、漏极和栅极,所述方法包括:根据版图设计规则,获取MOS管版图的规定面积;在所述规定面积的版图中,将栅极进行多次折叠,以使栅极呈折叠带状结构。本发明通过将栅极进行多次折叠,可以在相同的版图面积上增大栅极区域,从而在相同面积上做出尺寸更大的MOS管。与现有技术相比,设计大尺寸的MOS管需要更小的版图面积,降低了工艺生产成本。此外,本发明还提供了一种包括所述MOS管的芯片,能够减小芯片面积。 | ||
搜索关键词: | 一种 mos 版图 设计 方法 装置 芯片 | ||
【主权项】:
一种MOS管版图设计方法,所述MOS管版图包括源极、漏极和栅极,其特征在于,包括:根据版图设计规则,获取MOS管版图的规定面积;在所述规定面积的版图中,将栅极进行多次折叠,以使栅极呈折叠带状结构。
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