[发明专利]一种圆度的自校准方法及其测量装置

摘要

本发明公布了一种圆度的自校准方法及其测量装置，本发明方法包括两种方法：一种方法是在测量前将标件放在于摆盘上，进行仪器校准；另一种方法是通过测量时，先将被测物体置于中心处测量，再将被测物体置于偏离中心D处再次测量，从而完成自动校准的过程。本发明装置包括计数传感器，标件，摆盘，质量传感器，支架，底板，导线，数据处理及输出系统。本发明减小了在实际中因为仪器破坏而产生的系统误差，且测量方法简便快速，精度高。在工业生产、科学研究、军事应用等领域都有极具广泛的应用前景。

主权项

1.一种圆度的自校准方法，其特征在于包括如下步骤：a、旋转摆盘(3)至一定角度使其摆动，采用计数传感器(1)测出摆盘(3)转动10次的平均周期T₀，此时摆盘(3)自身的转动惯量为J₀，得到：J₀＝KT₀²，K为常数，其中所述一定角度的范围为：10°～40°，下同；b、将标件(2)置于摆盘中心位置，旋转摆盘一定角度使其摆动，采用计数传感器测出标件(2)转动10次的平均周期T₁，被测标件质量为m_s，此时已知标件(2)的转动惯量为J_s；由测量的数据(T₀，J₀)、(T_s，J_s)得到：J_s＝K(T_s²-T₀²)，则即其中J为其它被测物体的转动惯量，完成了圆度测量的仪器校准过程，其中T，J分别为其它被测物体的平均周期和转动惯量。