[发明专利]一种制作全息双闪耀光栅的方法有效

专利信息
申请号: 200910231737.3 申请日: 2009-12-03
公开(公告)号: CN101726779A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 刘全;吴建宏;汪海宾;胡祖元;陈新荣;李朝明 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18;G03F7/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种制作全息双闪耀光栅的方法,其特征在于,包括下列步骤:(1)在光栅基片上涂布光刻胶;(2)进行第一次干涉光刻,制作符合A闪耀角要求的光刻胶光栅掩模;(3)对于A光栅区的光栅掩模,通过倾斜Ar离子束扫描刻蚀,形成三角形的闪耀光栅槽形;清洗基片;(4)重新涂布光刻胶;(5)将B光栅区进行遮挡,利用已制备完成的A光栅区进行莫尔条纹对准,然后去除遮挡,进行第二次干涉光刻,制作符合B闪耀角要求的光刻胶光栅掩模;(6)通过倾斜Ar离子束扫描刻蚀,将B光栅区刻蚀形成三角形的闪耀光栅槽形;(7)清洗基片,得到全息双闪耀光栅。本发明实现了全息双闪耀光栅的制作,能够精确地分别控制两个闪耀角。
搜索关键词: 一种 制作 全息 闪耀 光栅 方法
【主权项】:
一种制作全息双闪耀光栅的方法,所述全息双闪耀光栅的两个闪耀角分别是A闪耀角和B闪耀角,双闪耀光栅分为两个区,对应A闪耀角的为A光栅区,对应B闪耀角的为B光栅区,其特征在于,制作方法包括下列步骤:(1)在光栅基片上涂布光刻胶,光刻胶的厚度根据A闪耀角确定;(2)进行第一次干涉光刻,制作符合A闪耀角要求的光刻胶光栅掩模;(3)遮挡B光栅区,对于A光栅区的光栅掩模,通过倾斜Ar离子束扫描刻蚀,利用光刻胶光栅掩模对离子束的遮挡效果,使基底材料的不同位置先后被刻蚀,形成三角形的闪耀光栅槽形;之后清洗基片,保留下已刻蚀完的闪耀光栅槽形;(4)在光栅基片上重新涂布光刻胶,光刻胶的厚度根据B闪耀角确定;(5)将B光栅区进行遮挡,利用已制备完成的A光栅区,采用光学莫尔条纹法进行莫尔条纹对准,使得两次干涉光刻产生的光栅周期相一致,然后去除遮挡,进行第二次干涉光刻,制作符合B闪耀角要求的光刻胶光栅掩模;(6)遮挡A光栅区,通过倾斜Ar离子束扫描刻蚀,将B光栅区刻蚀形成三角形的闪耀光栅槽形;(7)清洗基片,得到全息双闪耀光栅。
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