[发明专利]检查芯片、检测装置以及被检物质的检测方法无效
| 申请号： | 200910205180.6 | 申请日： | 2009-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN101726528A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 岩永茂树;桐村浩哉 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416;C12Q1/68;C12Q1/70;C12M1/34;C12R1/93 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 许海兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够使被检物质的检测灵敏度提高的用于检测被检物质的检查芯片。该用于检测被检物质的检查芯片包括：具备被形成在半导体层上的金属层的半导体电极部；捕捉被检物质的被固定在上述金属层上的探针；以及具备导电层的对极部。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 芯片 检测 装置 以及 物质 方法 | ||
【主权项】：
一种检查芯片，用来检测利用通过光激励而产生电子的修饰物质修饰过的被检物质，其特征在于包括：具备被形成在半导体层上的金属层的半导体电极部；捕捉被检物质的被固定在上述金属层上的探针；以及具备导电层的对极部。
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