[发明专利]一种走向困难地段的测高测距方法

摘要

本发明公开了一种走向困难地段的测高测距方法，本方法通过4点倾角测量，2点水平夹角测量，即可得出走向困难地段中物体的高度值及物体至观测点之间的水平距离，本方法其优点在于为数字化仪器亦即能利用倾角传感器与角位移传感器自动测量各倾角与水平夹角以及利用单片机数模编程提供新型的测量方法，本方法弥补了现无有效方法来对走向困难地段中物体的高度值及物体至观测点之间的水平距离进行测量的技术不足。

主权项

1、一种走向困难地段的测高测距方法，包括下列步骤：(1)、观测走向困难地段的物体AB，在任意选择的观测点C处分别测量出物体AB顶部A的倾角θA顶，物体AB基部B的倾角θB基。(2)、在观测点C附近设置一适宜点D，在适宜点D处放一标尺，以标尺刻度的0.4米处及3米处为标志点，在观测点C测量出两标志点的倾角θ3与θ0.4，并在观测点C测量出物体AB与适宜点D的水平夹角∠C。(3)、在适宜点D处测量出物体AB与观测点C的水平夹角∠D。(4)、根据倾角θ3、θ0.4以及水平夹角∠C、∠D，用数学式SOC＝2.6/(tgθ3-tgθ0.4)×Sin∠D/Sin∠(180-∠D-∠C) 数模(I)得出物体AB至观测点C的水平距离SOC；(5)、根据倾角θA顶、θB基、θ3、θ0.4以及水平夹角∠C、∠D，用数学式H＝2.6×(tgθA顶-tgθB基)/(tgθ3-tgθ0.4)×Sin∠D/Sin∠(180-∠D-∠C) 数模(II)得出物体AB的高H；数模(I)、数模(II)中各倾角凡仰角为正值，俯角为负值。