[发明专利]基于真空冻干技术在硅片表面丝网印刷精细掩膜的方法无效
申请号: | 200910032458.4 | 申请日: | 2009-07-08 |
公开(公告)号: | CN101593793A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 宫昌萌;倪志春;赵建华;王艾华 | 申请(专利权)人: | 中电电气(南京)光伏有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 | 代理人: | 程化铭 |
地址: | 211100江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了基于真空冻干技术在硅片表面丝网印刷精细掩膜的方法,其工艺步骤:步骤1.用H2SO4和H2O2混合溶液清洗硅片表面的有机物,再用去离子水清洗硅片,然后烘干;步骤2.用丝网印刷的方法将液态材料印刷在基底表面上,形成掩膜图形,掩膜的膜厚为20~70um;步骤3.将印刷好的硅片真空冻干;选择性刻蚀或注入掺杂后,将硅片浸入掩膜清洗液中清理表面的高分子聚合物。本发明方法,由于涂料快速固化,限制了它在基底上的铺展,线宽可以被很好地控制,该方法得到的掩膜最小线宽为70um,满足太阳能电池的要求。与光刻相比,这种方法不需要昂贵的设备,可以极大地降低制作掩膜的成本。 | ||
搜索关键词: | 基于 真空 技术 硅片 表面 丝网 印刷 精细 方法 | ||
【主权项】:
1、基于真空冻干技术在硅片表面丝网印刷精细掩膜的方法,其工艺步骤如下:步骤1、清洗硅片表面的有机物,清洗液选H2SO4和H2O2混合溶液;再用去离子水清洗硅片,然后烘干,增加硅片表面的黏附性,烘干温度为:60℃~100℃;步骤2、用丝网印刷的方法将液态材料印刷在基底表面上,形成掩膜图形,掩膜的膜厚为20~70um;步骤3、将印刷好的硅片立即放入真空冻干设备中,温度调至-10℃~-30℃范围,压强为1.3Pa~30Pa,真空冻干的时间为10min~30min。。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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