[发明专利]测距装置及其控制方法有效
申请号: | 200910003121.0 | 申请日: | 2009-01-05 |
公开(公告)号: | CN101770030A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 孙国瑞;吴任弘 | 申请(专利权)人: | 亚洲光学股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/48 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 高占元;王小青 |
地址: | 中国台湾台中县潭子*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种测距装置及其控制方法,该测距装置包括光发射组件,用以发出测量光、光接收系统,用以接收由该目标物反射该测量光的反射光,并且对应输出感测信号、比较器,包括参考信号输入端,用以接收参考信号、信号输入端,用以接收该感测信号,以及比较结果输出端,依据该参考信号与该感测信号的比较结果,输出比较结果信号、以及处理控制模块,用以提供该参考信号以及对应该比较结果信号调整该参考信号。本发明利用动态调整阀值的方式,达到提高准确度、测量范围及避免受目标物材质影响测量的准确度。 | ||
搜索关键词: | 测距 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种测距装置,用以对目标物进行测距,其特征在于,包括:光发射组件,用以发出测量光;光接收系统,用以接收由该目标物反射该测量光的反射光,并且对应输出感测信号;比较器,包括参考信号输入端,用以接收参考信号、信号输入端,用以接收该感测信号,以及比较结果输出端,依据该参考信号与该感测信号的比较结果,输出比较结果信号;以及处理控制模块,用以提供该参考信号以及对应该比较结果信号调整该参考信号。
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