[发明专利]测距装置及其控制方法有效

专利信息
申请号: 200910003121.0 申请日: 2009-01-05
公开(公告)号: CN101770030A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 孙国瑞;吴任弘 申请(专利权)人: 亚洲光学股份有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/48
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 高占元;王小青
地址: 中国台湾台中县潭子*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种测距装置及其控制方法,该测距装置包括光发射组件,用以发出测量光、光接收系统,用以接收由该目标物反射该测量光的反射光,并且对应输出感测信号、比较器,包括参考信号输入端,用以接收参考信号、信号输入端,用以接收该感测信号,以及比较结果输出端,依据该参考信号与该感测信号的比较结果,输出比较结果信号、以及处理控制模块,用以提供该参考信号以及对应该比较结果信号调整该参考信号。本发明利用动态调整阀值的方式,达到提高准确度、测量范围及避免受目标物材质影响测量的准确度。
搜索关键词: 测距 装置 及其 控制 方法
【主权项】:
一种测距装置,用以对目标物进行测距,其特征在于,包括:光发射组件,用以发出测量光;光接收系统,用以接收由该目标物反射该测量光的反射光,并且对应输出感测信号;比较器,包括参考信号输入端,用以接收参考信号、信号输入端,用以接收该感测信号,以及比较结果输出端,依据该参考信号与该感测信号的比较结果,输出比较结果信号;以及处理控制模块,用以提供该参考信号以及对应该比较结果信号调整该参考信号。
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