[发明专利]利用光子计数进行连续波层析X射线照相组合的方法和设备有效
| 申请号： | 200880132121.4 | 申请日： | 2008-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN102232227A | 公开（公告）日： | 2011-11-02 |
| 发明（设计）人： | 恩里科·多拉扎;索林·马尔科维奇;赵伟;J·格林斯潘;L·拉佩里尔;O·托斯格南特 | 申请（专利权）人： | 模拟技术公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 孟桂超;张颖玲 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 可从辐射源(122)获得层析X射线照相组合数据，所述辐射源(122)在改变其与光子计数X射线探测器(124)的相对位置的同时，基本上连续地发出辐射线。所述探测器(124)探测辐射线(406)内包括的光子，产生表示被探测光子的光子数据。所述光子数据可包括，例如，与被探测光子的探测时间、探测器(124)上的探测位置、能级和/或自辐射源(122)的轨道相关的数据。多个光子的光子数据可汇编到多个仓库内，通过重建和层析X射线照相组合技术，生成被检查的物体(120)的多个层析X射线照相平面(200)的合成图像。这样，所述层析X射线照相组合技术依靠对光子进行计数而不是测量其能量来创建合成图像。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 光子 计数 进行 连续 层析 射线 照相 组合 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种层析X射线照相组合方法(500)，包括：从X射线源基本上连续地发出X射线的同时，在物体的层析X射线照相组合检查期间改变(504)X射线源和光子计数X射线探测器的相对位置；生成(506)表示检查期间探测到的X射线光子的光子数据，其中所述光子数据包括多个被探测光子中每个光子的探测位置和探测时间；通过相关信号处理将光子数据组合(508)到多个第一仓库内，以生成第一入仓数据；使用(510)第一入仓数据生成表示物体的第一层析X射线照相组合数据；以及以人可感知的形式显示(512)第一层析X射线照相组合数据。
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