[发明专利]非正交粒子检测系统和方法有效
| 申请号： | 200880123951.0 | 申请日： | 2008-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN101910821A | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | J·米切尔;J·桑贝格;D·A·塞尔 | 申请（专利权）人： | 粒子监测系统有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人： | 杨勇;郑建晖 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 此处描述的是一种粒子检测系统，其能够对粒子和电磁辐射束的相互作用进行空间解析。利用特定的电磁辐射束横截面形状和取向，可改进粒子检测系统的检测灵敏度。还提供了以一种使背景信号低，并且能对粒子所散射或发射的电磁辐射进行空间解析的方式来检测粒子和确定粒子大小的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 正交 粒子 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
粒子检测系统，包括：流体池，用于容纳沿一个流向流过所述流体池的流体；源，用于生成电磁辐射束，其具有包括一长轴和一短轴的横截面轮廓，所述源被放置为导引所述辐射束经过所述流体池，其中在所述流体中包含的粒子与所述辐射束相互作用，从而生成散射的或发射的电磁辐射；以及二维检测器，其被放置为与所述流体池光通信，用于接收所述散射或发射的电磁辐射的至少一部分，其中所述二维检测器被放置为非正交于所述光轴。
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