[发明专利]用于多个样品的辐射度测量的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于以辐射测量方式检测多个样品的装置，该装置具有：辐射设备，其提供多个辐射元件，一辐射元件至少包括一个发射器元件，其中辐射设备优选提供至少两个发射器元件，提供具有不同辐射光谱的辐射，其中在至少部分重叠的时间段内，所述发射器元件中的至少两个适于发出辐射，以及控制设备，其控制所述辐射元件，样品架构件，其提供支撑多个样品的多个样品位置，其中在检测进程中，至少部分所述辐射设备和所述样品架构件适于相对彼此移动，并且其中至少一个辐射元件适于通过第一光路以辐射照射样品，这使该样品通过第二光路向至少一个检测设备以至少一个样品辐射频率发出样品辐射，所述至少一个检测设备，适于在至少部分重叠的时间段内，检测至少两个样品的样品辐射作为和信号；以及估算设备，其适于由所述和信号估算至少一个单个样品的样品辐射。本发明还涉及一种用于以光度测量方式检测至少一个样品的样品辐射的方法，该样品辐射是由至少一个辐射元件的N个发射元件的辐射引起的，其中在至少部分重叠的时间段内，所述N个发射器元件发出辐射，以在至少部分重叠的时间段内检测至少两个样品的样品辐射作为和信号，并且由所述和信号估算至少一个单个样品的样品辐射。

主权项

一种用于以辐射测量方式检测至少两个样品的N个样品辐射(N为大于1的自然数)的方法，该样品辐射由至少一个辐射元件的N个发射器元件的辐射引起，其中，在至少部分重叠的时间段内，所述N个发射器元件发出辐射，该方法包括以下步骤：确定一N个基频的组，将一个参考频率加到每一个所述基频上，其中，所述参考频率大于每一个所述基频，利用N个所述参考频率与所述基频的和来提供N个调制信号，其中，每个调制信号用于调制不同发射器元件的辐射，检测N个样品辐射作为和信号，其中，根据被调制的引起各个样品辐射的辐射来调制每个样品辐射，使用解调方法解调所述和信号，执行变换以将被解调的和信号从时间依赖信号转换为频率依赖信号，以及根据所述基频，从所述频率依赖信号的振幅确定至少一个单个样品辐射的量。