[发明专利]粉尘质量流测量系统的校准有效

专利信息
申请号: 200880012043.4 申请日: 2008-06-25
公开(公告)号: CN101657700A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: G·蒂特泽;N·费希尔;F·汉尼曼 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01F1/76 分类号: G01F1/76;G01F25/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 宣力伟
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种校准粉尘质量流测量系统的方法,其中从计量容器(1)通向气化反应器(4)的粉尘输送管道(5)沿输送方向在所安装的粉尘质量流测量装置(3)之后,能够不与所述气化反应器连接,而是与通向输入闸室(2)的校准管道(6)连接。所述输入闸室配有称重装置(WG),从而能够测定输入闸室的容纳物的质量。另外,计量容器和输入闸室之间的可调节的压差(PIC)可以调节(10),由所述设定的压差和所述输入闸室中质量的变化在一定的时间间隔内能够测定粉尘质量流。本发明的优点在于,在接近运行的输送条件下和具有足够长的实验持续时间的情况下,仅需要较小的额外支出,就能够在气化装置的粉尘输送系统中进行必需的功能测试和校准实验。
搜索关键词: 粉尘 质量 测量 系统 校准
【主权项】:
1.用于校准粉尘质量流测量系统的方法,其中-从计量容器(1)通向气化反应器(4)的粉尘输送管道(5)沿输送方向在所安装的粉尘质量流测量装置(3)之后,能够不与所述气化反应器连接,而是与通向输入闸室(2)的校准管道(6)连接,-所述输入闸室配有称重装置(WG),从而能够测定输入闸室的容纳物的质量,-在计量容器和输入闸室之间调整出预设的压差(PIC),-由所述预设的压差和所述输入闸室中质量的变化在一定的时间间隔内能够测定粉尘质量流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司,未经西门子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880012043.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top