[发明专利]具有用于测试快闪存储器的串行接口的嵌入式架构无效
| 申请号： | 200880005124.1 | 申请日： | 2008-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN101611456A | 公开（公告）日： | 2009-12-23 |
| 发明（设计）人： | 里卡尔多·雷焦里;法比奥·塔桑卡塞;米雷拉·马尔塞拉;莫尼卡·马尔齐亚尼 | 申请（专利权）人： | 爱特梅尔公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/32;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孟 锐 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示一种快闪存储器装置，其包含快闪存储器阵列、一组非易失性冗余寄存器、串行接口及耦合到所述串行接口的测试逻辑，所述测试逻辑经配置以接受来自外部测试器的串行命令集；擦除所述阵列；用测试模式编程所述阵列；读取所述阵列且将结果与所期望的结果相比较以识别错误；确定是否可通过替代所述阵列的冗余行或列来修复所述错误，且如果是这样的话，那么产生冗余信息；及将所述冗余信息编程到所述非易失性冗余寄存器中。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 用于 测试 闪存 串行 接口 嵌入式 架构 | ||
【主权项】：
1、一种快闪存储器装置，其包含：快闪存储器阵列；一组非易失性冗余寄存器；串行接口；测试逻辑，其耦合到所述串行接口且经配置以：接受来自外部测试器的串行命令集；擦除所述阵列；用测试模式编程所述阵列；读取所述阵列并将结果与所期望的结果相比较以识别错误；确定是否可通过替代所述阵列的冗余行或列来修复所述错误，且如果是这样的话，那么产生冗余信息；及将所述冗余信息编程到所述非易失性冗余寄存器中。
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