[实用新型]测试装置

摘要

本实用新型测试装置，其包括一底板、枢接于底板一端的压板、枢接于底板另一端的摇杆、枢接于压板上的压制件、设于压板和底板之间的一弹性元件、其中，该弹性元件具有至少一自由端和至少一抵接部，其中，压板在下压的过程中，抵接部抵接压制件，使得压制件水平的接触待测芯片，当压制件距离待测芯片一很小距离时，弹性元件的自由端先接触到底板，由于弹性元件的缓冲作用，由刚性材料做成的压板和压制件下压的冲击力减小，从而，压制件以较小的水平力接触待测芯片，因而，避免待测芯片受到很大冲击力引起的待测芯片变形、错位等不良现象的发生。

主权项

1. 一种测试装置，用于测试一待测芯片，其特征在于，包括：一底板，该底板设有一第一端及一与第一端相对的第二端；一压板，枢接于所述底板的第一端，该压板上设有一开口；一压制件，用于按压所述待测芯片，设于所述开口中并与所述压板枢接；一弹性元件，设于所述压板与所述底板之间，该弹性元件设有一基部和至少一自由端，该基部与所述压板固定，该自由端与所述底板的距离小于所述基部与所述底板之间的距离；当所述压板朝着所述底板的方向旋转的过程中，该自由端先接触到所述底板。