[实用新型]测试装置有效

专利信息
申请号: 200820189360.0 申请日: 2008-08-29
公开(公告)号: CN201259507Y 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 彭建民 申请(专利权)人: 番禺得意精密电子工业有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R1/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 511458广东省广州市番禺南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种测试装置,用于测试一待测芯片,其特征在于,包括:

一底板,该底板设有一第一端及一与第一端相对的第二端;

一压板,枢接于所述底板的第一端,该压板上设有一开口;

一压制件,用于按压所述待测芯片,设于所述开口中并与所述压板枢接;

一弹性元件,设于所述压板与所述底板之间,该弹性元件设有一基部和至少一自由端,该基部与所述压板固定,该自由端与所述底板的距离小于所述基部与所述底板之间的距离;

当所述压板朝着所述底板的方向旋转的过程中,该自由端先接触到所述底板。

2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置包括一电路板,该电路板与所述待测芯片电性导接。

3.如权利要求2所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置包括一绝缘本体,该绝缘本体位于所述底板内且固定于所述电路板上。

4.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置包括一摇杆,该摇杆枢接于上述底板的第二端。

5.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置设有一固定单元,该固定单元把所述弹性元件固定于所述压板上。

6.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置设有一第一轴和一第二轴,所述第一轴、所述第二轴均枢接所述压制件与所述压板。

7.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述测试装置设有一第三轴,该第三轴枢接所述压板与所述底板。

8.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述弹性元件设有至少一抵接部,该抵接部抵接所述压制件绕所述第一轴、所述第二轴旋转,其旋转方向与所述压板绕所述底板旋转方向一致,使得所述压制件水平的接触待测芯片。

9.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述弹性元件由所述每一自由端延伸出每一抵接部,该抵接部抵接所述压制件绕第一轴、所述第二轴旋转,其旋转方向与所述压板绕所述底板旋转方向一致,使得所述压制件水平的接触所述待测芯片。

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